QE/IPCE测试系统

　　整套系统为交钥匙测试系统，*自动化测试，符合ASTME1021-06和IEC60904-8国际测试标准；

　　系统可测量各种硅基微结构等等多功能光电材料及器件，包括Si类光电器件，纳米线电池、a-Si、CIS-Cell、Multi-Cell、CdTe-multilayer、Tandem-cell、Mono-Cell、Organic-Cell、CIG-Cell、GaInP/GaAs/Ge、GaAs/CIS(thinfilm)、单晶、多晶硅、非晶微晶硅微纳器件、多结叠层电池、聚能电池、染料敏化电池、新型钙钛矿电池、薄膜电池等等及其他有机或无机类光电器件或者探测器。

　　可测量各种探测器，包括紫外、可见、近中远红外（选配）等各类探测器的光谱响应；

　　系统测量各类样品的表面吸收和反射，绝对光谱响应、相对光谱响应、绝对光谱漫反射、相对光谱漫反射、内/外量子效率、绝对透过率、相对透过率、电流密度等的测试。

　　系统测试波长范围：300nm-1800nm；(200-2500nmOption)；

　　具备可测量材料的SPV表面光电压谱测试功能；

　　测量电池面积：可调。最小面积小于0.01mm2；可测量纳米线太阳电池；0.01mm2-165x165mm2（或更大面积可选）；可扩展为测量功率不小于200W的光伏电池组件；

　　手套箱测试功能：可以结合手套箱在真空环境或者带压力的保护气体环境下测量光电材料的光谱响应/光电转换效率；

　　系统测试结果可重复性精度：≤0.15%(300–1800nm)、

　　双光路设计，同时测量被测器件响应电流和入射光强；计算机自动扫描，波长间隔用户连续可调；

　　杂散光：＜10-5；

　　波长精度：＜0.1nm；

　　系统带有白光偏置光源

　　QE/IPCE测试系统

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