粒度及zeta电位分析仪

粒度及zeta电位分析仪简介：

Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有*技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。

粒度及zeta电位分析仪技术优势

1、高灵敏度PMT检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、准确度高，接近样品真实值；

4、可测试水相及有机相样品的粒度及Zeta电位；

5、快速检测，可以追溯历史数据；

6、结果数据以多种形式和格式呈现；

7、符合USP,CP等个多药典要求；

8、无需校准；

9、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正态粒度分布与*的Nicomp多峰分布算法自由切换

（2）频率（Frequency）Zeta电位分析法与*的相位（Phase）分析法自由切换

10、模块化设计便于维护和升级；

（1）可自动稀释模块（选配）；

（2）自动进样系统（选配）；

（3）搭配多角度检测器（选配）；

Nicomp多峰分布概念

基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所*的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。

Nicomp多峰分布优势

Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的准确情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。

粒度及zeta电位分析仪

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